FISCHERSCOPE X-RAY XUL220菲希爾X射線

菲希爾X射線測厚儀FISCHER XUL220核心技術參數(shù)

測量原理：能量色散 X 射線熒光光譜（EDXRF）

X 射線源：鎢靶微聚焦管（帶鈹窗口）

高壓設置：30kV / 40kV / 50kV（三檔可調）

準直器：

標準：?0.3mm（圓形）

可選：0.3 x 0.05mm（矩形，最小檢測面積 0.04mm2）

探測器：比例計數(shù)器（高計數(shù)率 > 100 kcps）

元素范圍：氯 (Cl, 17) ~ 鈾 (U, 92)

測量層數(shù)：可測單層、雙層、三層鍍層及合金成分

測量方式：自下而上照射（X 射線管與探測器位于樣品臺下方）

定位系統(tǒng)：

手動 XY 工作臺（±50mm 行程）

高分辨率 CCD 攝像頭（40x-160x 變焦）+ 可調 LED 照明

尺寸 / 重量：403 x 588 x 444 mm / 約 45 kg

安全認證：符合德國 R?V 輻射安全標準、DIN ISO 3497、ASTM B 568

菲希爾X射線測厚儀FISCHER XUL220主要技術特點

微聚焦高精度

采用微聚焦光管，配合超細準直器，最小可測 0.04mm2的超小區(qū)域，非常適合精密電子元件（如連接器引腳、PCB 焊點）。

DCM 距離補償技術

自動修正因樣品表面不平整或放置高度差異帶來的測量誤差，確保復雜形狀工件（如螺絲、螺母）的測量穩(wěn)定性。

基本參數(shù)法（FP 法）

內置菲希爾算法，部分應用無需專用標準片即可進行精準測量，簡化操作并降低使用成本。

高效易用

自下而上光路：樣品直接平放，無需復雜夾具，定位快速。

WinFTM® 軟件：多語言界面，支持 SPC 統(tǒng)計分析、數(shù)據(jù)導出和報告生成。

菲希爾X射線測厚儀FISCHER XUL220典型應用領域

電子行業(yè)：連接器、端子、LED 支架、PCB 電路板的鍍金、鍍鎳、鍍錫層測量。

五金 / 電鍍：螺絲、螺母、衛(wèi)浴五金的鋅、鎳、鉻、銅等防腐 / 裝飾鍍層測量。

化工：電鍍槽液中金屬離子濃度的快速分析。

其他：貴金屬（金、銀、鉑）成分快速檢測（選配）。