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半導體材料冷熱沖擊試驗箱

• 更新時間：2025-12-16

艾思荔半導體材料冷熱沖擊試驗箱采用三箱式?jīng)_擊試驗程式控制。高溫箱/試驗箱/低溫箱依上而下。樣品在試驗室內(nèi)保持靜止。制冷機：制冷壓縮機選用法國“泰康"半封閉壓縮機，其主要制冷配件均采用進口原件，組裝成為一套復疊制冷機組。

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艾思荔半導體材料冷熱沖擊試驗箱采用三箱式?jīng)_擊試驗程式控制。高溫箱/試驗箱/低溫箱依上而下。樣品在試驗室內(nèi)保持靜止。制冷機：制冷壓縮機選用法國“泰康”半封閉壓縮機，其主要制冷配件均采用進口原件，組裝成為一套復疊制冷機組。在制冷管路系統(tǒng)中采用了多路能量調(diào)節(jié)回路，能較好地保證達到試驗箱的各項技術參數(shù)。

冷熱沖擊試驗箱規(guī)格與技術參數(shù)：

型號 TS-49

溫度穩(wěn)定度：±0．2℃

保溫材質(zhì)：耐高溫、高密度氯基甲酸乙醋泡沫絕緣材料

系 統(tǒng)：P．I．D+S．S．R+微電腦平衡調(diào)溫控制系統(tǒng)

冷凍系統(tǒng)：法國泰康全封閉風冷式復疊機/德國谷輪水冷式機組

保護裝置：無熔絲開關、壓縮機高低壓保護開關、冷媒高壓保護開關、故障警告系統(tǒng)、電子警報器

配 件：上下可調(diào)隔層兩片

電 源；3Φ220VAC±10% 50/60Hz & 3Φ 380V/415VAC±10% 50Hz

內(nèi)部尺寸(cm)：40×30×35     

外部尺寸(cm)：162×200×142

測試區(qū)溫度范圍：高溫：+60℃～+150℃

低溫：-10℃ ～ －65℃（A：-45℃ B：-55℃ C：-65℃）

（高溫區(qū)）升溫時間：RT—200℃約需45min

（低溫區(qū)）降溫時間：RT—-70℃約需90min

回復時間：5min內(nèi)

設備符合MIL-STD-883C,GB/T2423．13，GJB-150．5GJB1217-91等標準的要求。

冷熱沖擊試驗箱產(chǎn)品結(jié)構：

1．外殼冷軋鋼板噴塑/內(nèi)膽不銹鋼，箱門均采用優(yōu)質(zhì)硅橡膠密封條。

2．隔熱層：硬質(zhì)聚胺脂．超細玻璃棉

3．制冷方式：二元壓縮制冷方式（水冷冷凝器）

4．制冷機：制冷壓縮機選用法國“泰康”半封閉壓縮機，其主要制冷配件均采用進口原件，組裝成為一套復疊制冷機組。在制冷管路系統(tǒng)中采用了多路能量調(diào)節(jié)回路，能較好地保證達到試驗箱的各項技術參數(shù)。

5．加熱器：不銹鋼翅片加熱器

6．IPC2000彩色LCD觸摸屏控制器，可顯示所設定運行的溫度曲線及溫度的升降動態(tài)進程

7．待測品靜止自動引導預熱區(qū)、室溫、預冷區(qū)溫度沖擊。

8．試驗箱采用三箱式?jīng)_擊試驗程式控制。高溫箱/試驗箱/低溫箱依上而下。樣品在試驗室內(nèi)保持靜止。以上尺寸僅供參考，可根據(jù)客戶要求設計工作室尺寸。

半導體材料冷熱沖擊試驗箱產(chǎn)品用途：　

又稱冷熱沖擊測試設備產(chǎn)品適用于電子元器件的安全性能測試提供可靠性試驗、產(chǎn)品篩選試驗等，同時通過此裝備試驗，可提高產(chǎn)品的可靠性和進行產(chǎn)品的質(zhì)量控制。

二箱式：上部為高溫箱，下部為低溫箱，兩箱之間由樣品架連結(jié)，經(jīng)氣動系統(tǒng)在兩箱間切換。

三箱式：該沖擊試驗箱為待測品靜置之冷熱交替沖擊方式，廣泛使用于電子零組件測試，半導體，電子線路板，金屬化學，材料等測試設備。試驗箱下部為低溫蓄冷區(qū)，上部為高溫蓄熱區(qū)，試件（待測品）放置在試驗箱中部，高溫沖擊時，上風門打開，形成高溫內(nèi)循環(huán)。低溫沖擊時，上風門關閉，下風門打開，形成低溫內(nèi)循環(huán)。該沖擊試驗箱的最大特點是：試件(待測品)靜止不動，使用戶避免了因試件移動帶來的諸多不便。

    廣東艾思荔是專業(yè)的連接器冷熱沖擊測試設備、高低溫試驗箱，高溫試驗箱,步入式高低溫試驗箱,高低溫低氣壓試驗箱廠家,產(chǎn)品種類齊全,質(zhì)量可靠,產(chǎn)品包括高低溫試驗箱,步入式試驗箱,砂塵箱,快速溫度變化試驗箱,淋雨試驗箱等環(huán)境試驗設備。