快速溫度變化試驗(yàn)箱主要用于研究各種工業(yè)產(chǎn)品的熱機(jī)械性能引起的失效。當(dāng)構(gòu)成產(chǎn)品各部分材料的熱匹配性較差或部分內(nèi)應(yīng)力較大時(shí)，溫度循環(huán)試驗(yàn)可因機(jī)械結(jié)構(gòu)缺陷惡化而導(dǎo)致產(chǎn)品失效。試驗(yàn)箱的溫度變化率一般在5～20℃/min之間，能夠真實(shí)快速地再現(xiàn)被測(cè)樣品的應(yīng)用環(huán)境條件。一般用于光電器件、互連電路、元器件單元和電子設(shè)備的篩選試驗(yàn)和失效模式評(píng)估，是發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品設(shè)計(jì)缺陷和工藝問題的有效方法。

　　環(huán)境應(yīng)力篩選是針對(duì)客戶要求的快速溫度變化測(cè)試而專門設(shè)計(jì)的。它是一種方法測(cè)試，用于篩選樣品暴露于可能導(dǎo)致過早失效的氣候、熱或機(jī)械應(yīng)力。它是一種篩選樣品暴露于可能導(dǎo)致過早失效的氣候、熱或機(jī)械應(yīng)力的方法。我們可以找到電子模塊設(shè)計(jì)在材料或生產(chǎn)上的缺陷。
 

　　快速溫度變化試驗(yàn)箱適用于耐寒性試驗(yàn)、溫度快速變化或漸變條件下的適應(yīng)性試驗(yàn)，以及電子電器產(chǎn)品的環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(yàn)。該設(shè)備主要針對(duì)電子電器產(chǎn)品及其原材料等材料在高溫、低溫快速變化的環(huán)境中儲(chǔ)存、運(yùn)輸和使用過程中的適應(yīng)性試驗(yàn)。用于根據(jù)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)的要求或用戶自定義的要求，對(duì)產(chǎn)品在低溫、高溫和條件下的物理及其他相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬試驗(yàn)，通過測(cè)試判斷產(chǎn)品性能是否仍然可以滿足產(chǎn)品設(shè)計(jì)、改進(jìn)、鑒定和交貨檢驗(yàn)的預(yù)定要求。

　　快速溫度變化試驗(yàn)箱空氣調(diào)節(jié)方式：強(qiáng)制通風(fēng)、內(nèi)循環(huán)、平衡調(diào)溫。當(dāng)目標(biāo)溫度高于室溫時(shí)，制冷系統(tǒng)不工作。中央控制系統(tǒng)根據(jù)采集到的室內(nèi)溫度信號(hào)進(jìn)行放大、模數(shù)轉(zhuǎn)換和非線性校正，與溫度設(shè)定值（目標(biāo)值）進(jìn)行比較，通過PID計(jì)算偏差信號(hào)，輸出調(diào)節(jié)信號(hào)自動(dòng)控制加熱器的輸出功率，實(shí)現(xiàn)試驗(yàn)箱內(nèi)加熱與散熱的動(dòng)態(tài)平衡，最終達(dá)到恒溫的目的。溫度快速變化試驗(yàn)箱在產(chǎn)品中產(chǎn)生熱應(yīng)力和應(yīng)變。該繼電器摒棄了傳統(tǒng)的電流差動(dòng)原理，采用了整個(gè)報(bào)警周期內(nèi)電流幅值智能比較的方法，具有記憶特性。