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更新時間：2019-03-25 
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以下為我司為客戶現(xiàn)場培訓圖：
FISCHER 的臺式涂鍍層測厚儀使用 X 射線熒光法或多探頭的接觸式測量技術(shù)，能提供的性能和靈活性。由于運用了各種測量技術(shù)，因此能夠為任何測量任務提供合適的解決方案。臺式儀器可以通過軟件和硬件接口輕松集成到生產(chǎn)和質(zhì)量管理系統(tǒng)中。
用于快速、地測量鍍層厚度及材料成分分析的測量儀器。
基于 X 射線熒光法的測試儀器，堅固耐用，快速、地測量鍍層厚度，特別適合電鍍行業(yè)。
功能*：XDL 系列儀器具有全面的配置方案，可手動或自動測試，是鍍層厚度測量與材料成分分析的理想之選。
FISCHERSCOPE® XDV-SDD專為滿足高要求的鍍層厚度測量和材料分析而設計
FISCHER的XDV-µ型系列儀器，可用于測量電子或珠寶等行業(yè)中微小結(jié)構(gòu)的產(chǎn)品
X 射線熒光儀器，配有用于分析輕元素的真空測量室。
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